平面近場測試系統

       天線平面近場測試用一個特性已知的探頭，在離待測天線幾個波長(3-10λ)的某一平面上進掃描，測量天線在該平面離散點的幅度與相位分布，通過平面波展開得到被測天線的遠場區的輻射特性進而確定天線遠場方向圖。

系統組成：

       平面近場測試系統包括微波暗室屏蔽和吸波系統、機械子系統、射頻子系統、控制與測試軟件、數據處理軟件等。機械子系統主要包含掃描架、掃描架控制器、探頭極化旋轉裝置、各型號波導探頭。射頻子系統有發射、接收兩部分。

          

          

       應用場景：

       高增益天線（增益≥15 dBi）的測量如反射面天線、衛星天線、相控陣天線、THz天線、微波輸能天線等以及整星測試。

主要性能指標：

             天線增益測試；

             天線方向圖：副瓣電平、波束寬度、差零深測試；

             天線近場診斷功能測試；

             多頻點、多通道、多波位（波束數量＞5萬個）測試功能；

             相控陣通道校準、脈沖測試、DBF測試。測試誤差：

             增益測量誤差≤±0.3dB（不含標準增益喇叭自身誤差）；

             -20dB副瓣時≤±0.8dB

             -30dB副瓣時≤±2dB

             -40dB副瓣時≤±3dB

             幅度精度（RMS）：0.1dB；

            相位精度（RMS）：1°；